Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性，而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。
HL8001系列zeta電位分析儀
常見(jiàn)的幾種測(cè)試電位方法：
1.電泳光散射法：常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特點(diǎn)有：樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試；不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大；測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，一般在±10mv以內(nèi)；
2.超聲電聲法電聲法不是采用光學(xué)方法，而是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢(shì)有：樣品無(wú)需稀釋，原液進(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)。測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mv以內(nèi)?？梢詼y(cè)試微觀參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。
3.流動(dòng)電位法：以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位，有很多客戶需要測(cè)試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位等，此時(shí)即需要流動(dòng)法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。
4.微電泳法：微電泳法測(cè)試zeta電位，前端兩側(cè)為四個(gè)電極，進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng)，*上方為ccd相機(jī)，進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤，得到信號(hào)，從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率，計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位，從而得到zeta電位的分布。
zeta電位儀測(cè)試的重要性及原理：
zeta電位是對(duì)顆粒間的靜電、電荷排斥/吸引強(qiáng)度的度量，是影響穩(wěn)定性的基本參數(shù)之一。通過(guò)測(cè)量可詳細(xì)了解分散、凝聚或聚團(tuán)的原因，還可改善分散劑、乳化劑及懸浮劑的配方。
zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與*內(nèi)外其它同類(lèi)型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性。
zeta電位儀應(yīng)用行業(yè)：
1.半導(dǎo)體：研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。
2.醫(yī)藥和食品行業(yè)：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品)，蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究(微囊)。
3.陶瓷和顏料工業(yè)：表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
4.聚合物和化工領(lǐng)域：乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。