納米粒度及zeta粒度儀是一種用于測量納米材料電位和粒度分布的重要儀器。其原理基于電泳或電滲原理，通過測量納米顆粒在電場作用下的移動行為，來獲得其電位和粒度信息。
目前海鑫瑞科技的納米粒度及zeta粒度儀不僅可以得到粒度、電位的數(shù)據(jù)之外，還可以得到分子量、溫度/時(shí)間趨勢、以及隨著溶液PH的變化電位的變化數(shù)據(jù)等，
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首先，讓我們了解一下粒度測量原理 ：
納米粒度及zeta粒度儀則是基于光散射原理進(jìn)行測量。當(dāng)一束激光照射在納米顆粒上時(shí) 光的散射角度與顆粒的大小有關(guān)。通過測量散射角度，可以得到顆粒的粒度分布情況。
其次是電位測量原理： 在Zeta電位納米粒度儀中，通常使用電泳光散射法來同時(shí)測量納米顆粒的電位和粒度。在電場作用下，通過測量納米顆粒的電泳速度和光散射強(qiáng)度，可以推算出其電位值和粒度分布。
這種方法既具有高靈敏度，又能夠快速分析大量樣本。
此外，Zeta電位納米粒度儀還具有非侵入性測量的優(yōu)勢，無需操作者與樣品接觸，避免了污染和干擾，確保了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
總的來說，納米粒度及zeta粒度儀的原理是結(jié)合電泳和光散射技術(shù)，通過測量納米顆粒在電場作用下的運(yùn)動行為和光散射特性，來獲得其電位和粒度信息。這種儀器在納米材料的
研究和開發(fā)中具有重要的應(yīng)用**，為材料科學(xué)、環(huán)境保護(hù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究提供了有力支持。